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  • 紫外光老化试验箱技术规格:型号SE-UV1SE-UV2SE-UV3功能紫外线暴晒√√√冷凝√√辐照度显示√辐照度调节√√√水喷淋√√热冲击条形图表记录仪(可选)(可选)(可选)温度范围紫外温度+50~+70℃+50~+70℃+50~+70℃...

  • 高低温试验箱技术参数:型号SED-150SED-225SED-408SED-800SE-GD1000工作室尺寸(cm)50×50×6050×60×7560×80×85100×80×100100×100×100外形尺寸(cm)115×75×1...

  • 高低温湿热试验箱技术规格:型号SEH-150SEH-225SEH-408SEH-800SEH-1000工作室尺寸(cm)50×50×6050×60×7560×80×85100×80×100100×100×100外形尺寸(cm)115×75×...

  • 快速温变试验箱技术规格:型号SES-225SES-408SES-800SES-1000SES-1500SES-2000内箱尺寸(WxDxHcm)50×60×7560×80×8580×100×100100×100×100100×100×150...

  • 自然对流试验箱本产品用途:模拟真实热测试环境避免风循环将热量带走,高估待测品散热效益,家庭娱乐视听设备以及汽车电子是旂多厂商的重点商品之一,产品在研发过程必须要仿真在不同温度下,产品对温度的适应性以及电子特性,但是采用一般烤箱或是恒温恒湿试...

  • 液槽高低温冲击试验箱适合:电子芯片IC、PCB、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化试验。高低温液体槽内采用强迫搅拌对流方式。液态冲击试验箱采用全自动上下左右位移机构移动试料篮至预热、预冷槽,往返冲击方式。氟油采用单一相同液体于高低温槽内,降...

  • 液体温度冲击试验箱适合:电子芯片IC、PCB、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化试验。高低温液体槽内采用强迫搅拌对流方式。液态冲击试验箱采用全自动上下左右位移机构移动试料篮至预热、预冷槽,往返冲击方式。氟油采用单一相同液体于高低温槽内,降低...

  • 液体介质冲击试验箱适合:电子芯片IC、PCB、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化试验。高低温液体槽内采用强迫搅拌对流方式。液态冲击试验箱采用全自动上下左右位移机构移动试料篮至预热、预冷槽,往返冲击方式。氟油采用单一相同液体于高低温槽内,降低...

  • 高低温湿热试验箱规格:型号SEH-150SEH-225SEH-408SEH-800SEH-1000工作室尺寸(cm)50×50×6050×60×7560×80×85100×80×100100×100×100外形尺寸(cm)115×75×15...

  • 快速温变试验箱产品规格:SES单位:带湿度:SEA单位:不带湿度型号SES-190SES-330SES-600SES-1000SES-1500工作室尺寸(WxDxHcm)58×45×7558×76×7580×80×95100×100×100...

  • 锂电池防爆试验箱技术规格:型号SEH-150SEH-225SEH-408SEH-800SEH-1000工作室尺寸(cm)50×50×6050×60×7560×80×85100×80×100100×100×100外形尺寸(cm)115×75×...

  • 防水试验箱产品规格:型号SE-LX50SE-LX010SE-LX015内箱尺寸(mm)800×800×8001000×1000×10001500×1500×1500IPX1~IPX2滴水试验倾斜15°滴水试验;针孔孔直径Ø0.4mm(可更换...

  • 太阳辐照试验箱技术规格:型号SE-HK工作室尺寸(mm)500L~10m3,也可以根据需求进行定制性能温度范围-70℃~+150℃温度均匀度≤2℃(无光照下)温度偏差±2℃(无光照下)温度波动度≤1℃(≤±0.5...

  • 快速温变试验箱产品规格:SES单位:带湿度:SEA单位:不带湿度型号SES-190SES-330SES-600SES-1000SES-1500工作室尺寸(WxDxHcm)58×45×7558×76×7580×80×95100×100×100...

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