冷热冲击快速温变箱为了仿真不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。（需把握在失败机制依然未受影响的条件下）RAMP试验条件标示为：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是

高低温冲击ESS试验箱赛思改变了传统进行温度循环、高低温冲击（2 Zoon）、高低温+常温冲击（3 Zoon）、应力筛选ESS，至少需要购买四台设备的状况。让您摆脱以往需添购很多种设备才能完成的试验，需耗费许多添购设备&占用空间的硬件成本， 一次解决您的需求，满足不同产品不同试验的多样性与多变性，提高机台使用的稼动率。并且不需再依不同待测品去耗费时间手动调整，我们的创新系统自动帮您搞定，赛思秉持着

温度快速冲击试验箱可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能；等均温速率可设定范围5℃～30℃/min（40℃/min）；.满足无铅制程、无铅焊锡、锡须（晶须）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求。

高低温冲击筛选试验箱集多种机型于一体的功能设计，一次性解决您的需求，满足不同产品不同试验的多样性与多变性，提高机台的利用率和工作效率。应力筛选复合试验箱适用于对整机产品、元器件、零部件、材料等进行温度储存、慢速温度循环3~5℃/min、应力筛选5~15℃/min、快速温变15~30℃/min、冷热冲击试验、检验产品在试验过程中本身的适应能力与特性是否改变。

温度冲击ESS试验箱为了仿真不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。