高低温试验箱 ≠冷热冲击试验箱

发布时间： 2025-07-09　　点击次数： 55次

在环境可靠性测试中，“冷热冲击试验"和“高低温试验"经常被提及。不少初入行业的工程师会误以为它们是同一回事，或随意替代使用。

实际上，这两者在试验目的、方式、参数要求等方面存在显著差异，若选型错误，不仅会影响产品验证结论，甚至可能导致可靠性风险。

本文以各项国际标准依据，梳理技术要点，一次性理清它们的区别。

一.冷热冲击试验：瞬间破坏、考验结构失效

冷热冲击试验是指试样在两个温差较大的环境之间进行快速切换，考察其在剧烈热胀冷缩作用下的适应性和结构可靠性。常用于焊接结构、封装材料、电子器件等应力敏感型产品的破坏性筛选或设计验证。

📘 参考标准：

《GB/T 2423.22-2012》：电工电子产品环境试验试验N：温度变化

《IEC 60068-2-14:2009》：Test Na（快速温度变化）

《MIL-STD-883H Method 1010.8》：电子元件用温度冲击试验

高低温试验箱 ≠冷热冲击试验箱

二.高低温试验：缓变温度、考察老化与适应性

高低温试验是一种程序控制的缓慢升降温试验，用于评估产品在多次热应力交替作用下的疲劳老化特性，常用于整机、材料、结构件的可靠性评估。

📘 参考标准：

《GB/T 2423.1-2021》：低温试验方法（Test A）；《GB/T 2423.2-2021》：高温试验方法（Test B）

《GB/T 2423.22-2012》：温度变化（Test N）；《IEC 60068-2-14》：温度变化试验（Test Nb）

高低温试验箱 ≠冷热冲击试验箱

三.标准对比：冷热冲击 vs 高低温试验

高低温试验箱 ≠冷热冲击试验箱

四.实际测试中常见选型误区

温度循环也能看焊点开裂？

→ 由于温变过慢，高低温循环无法模拟突发热应力；焊点裂纹等需要瞬间膨胀破坏的应力条件，必须通过冷热冲击方式暴露。

冷热冲击比高低温循环更适用于各类温度试验？

→ 二者各有用途。冷热冲击用于设计极限测试或出厂前筛选，高低温循环则更适合长期老化评估。混用测试方法反而会“错杀"或“误放"问题。

五.试验箱说明：以三箱式冷热冲击试验箱为例

以下为我司SETH赛思三箱式冷热冲击试验箱结构与参数，适用于GB/T、IEC、MIL等标准下的快速应力测试。

高低温试验箱 ≠冷热冲击试验箱

产品规格：SET-A3表示-40℃～+150℃/ A4表示-55℃～+150℃/A5.表示-65℃～+150℃

 型号		SET-A	SET-B	SET-C	SET-D	SET-G
内部尺寸 (W x D x H cm)		40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60	80×70×60
外部尺寸 (W x D x H cm)		140×165×180	150×190×185	160×190×185	170×240×195	180×260×200
结构		三箱式（预冷箱）（预热箱）（测试箱）
温度恢复时间		小于5分钟（出风口测量）
温度均匀度		≤2℃
温度波动度		≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示
温度偏差		±2℃
测试方法		三箱法标准//两箱法标准
冷冻系统		机械压缩二元式复叠制冷方式
温度范围	预热温度	+50～+200℃
	高温暴露	+50～+150℃
	预冷温度	R.T～-75℃
	低温暴露	-40℃～0℃/ -55℃～0℃/ -65℃～0℃
	控制器	中文彩色触摸屏+ PLC控制器（SETH/赛思自行开发）
	控制方式	靠积分饱和PID，模糊算法平衡式调温P.I.D + P.W.M + S.S.R
标准配置		附照明玻璃窗口1套、试品架2个、测试引线孔1个
冷却方式		水冷（水温7℃～28℃，水压0.1～0.3Mpa），以便确保降温性能
安全保护		漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、超载、过电流保护
电源电压		AC380V 50Hz三相四线+接地线

冷热冲击是“快准狠"的破坏验证；高低温循环是“慢扎实"的长期耐久筛查。

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