HAST高压加速老化试验箱的96h和双85的1000h的区别

发布时间： 2025-05-06　　点击次数： 119次

HAST（高压加速老化试验箱，Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test）的96小时测试与双85测试（85℃/85%RH，1000小时）是两种典型的加速老化试验方法。

1. 核心差异速览

维度	HAST 96小时	双85测试 1000小时
测试条件	130℃、85%RH、2.3atm高压	85℃、85%RH、常压
加速机制	高压蒸汽加速水汽渗透 + 高温化学反应	常压下湿热缓慢渗透与氧化
等效时间	约等效常规湿热环境 10~20年	约等效自然老化 5~10年
测试周期	4天（快速验证）	42天（长期模拟）
主要失效模式	电化学腐蚀、界面分层、离子迁移	吸湿膨胀、绝缘退化、材料氧化
成本	高（高压设备、能耗）	低（普通恒温恒湿箱）
适用对象	非密封电子器件（芯片、LED、车规模块）	通用材料（塑料、光伏、电池）

2. 选择决策树

产品是否密封？

是 → 选双85测试（避免HAST高压破坏封装）。

否 → 进入下一步。

时间是否紧迫？

是 → 选 HAST 96小时（快速验证，4天出结果）。

否 → 进入下一步。

关注失效类型？

电化学腐蚀/界面问题 → 选 HAST。

吸湿膨胀/长期老化 → 选双85。

预算是否充足？

是 → HAST（高压设备投入）。

否 → 双85（低成本长期测试）。

注意事项

HAST风险：避免用于气密性封装，高压可能引发非真实破裂。

双85局限：无法加速电化学腐蚀，需结合其他测试查漏。

HAST高压加速老化试验箱的96h和双85的1000h的区别

HAST高压加速老化试验箱用途：

主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCT主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。

技术特点：

◆ 真空泵浦设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性；

◆ 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转300小时；

◆干燥设计，试验终止采真空干燥设计确保测试区(待测品)的干燥；

◆ 水位保护，透过炉内水位Sensor检知保护；

◆ 耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6k；

◆二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置；

◆ 安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮；

HAST高压加速老化试验箱技术规格：

型号		SEST-S250	SEST-S350	SEST-S450	SEST-S550
工作室尺寸(cm)		Ø 25×35	Ø 30×45	Ø 40×55	Ø 50×60
性能	温度范围	105～132℃
	湿度范围	100%RH饱和蒸汽（不可调）// 65%RH～100%RH非饱和蒸汽（可调）
	温度均匀度	≤2℃
	湿度均匀度	≤±5%RH
	压力范围	1.2~2.89kg(含1atm)
	加压时间	约45/Min
温度控制器		中文彩色触摸屏+ PLC控制器（控制软件自行开发）
循环方式		强制对流循环方式
结构		标准压力容器
加湿系统		电热管
加湿用水		蒸馏水或去离子水（自动补水）
电源		AC380V 50Hz三相四线+接地线
材料	外壳材料	冷轧钢板静电喷塑(SETH标准色)
	内壁材料	SUS316不锈钢板
	保温材料	玻璃纤维棉
电压		220V～240V 50/60HZ单相

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