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冷热冲击试验箱技术规格:
東莞市赛思检测設備有限公司 | ||||||
型号 | SET-A | SET-B | SET-C | SET-D | SET-G | |
内部尺寸cm | 40*35*35 | 50*50*40 | 60*50*50 | 70*60*60 | 80*70*60 | |
外部尺寸cm | 140*165*165 | 150*190*175 | 160*190*185 | 170*240*195 | 180*260*200 | |
结构 | 三厢式(预冷箱)(预热箱)(测试箱) | |||||
气门装置 | 强制的空气装置气门 | |||||
内箱材质 | SUS#304不锈钢 | |||||
外箱材质 | 冷轧钢板静电喷塑 | |||||
冷冻系统 | 机械压缩二元式复叠制冷方式 | |||||
转换时间 | <10Sec | |||||
温度恢复时间 | <5min | |||||
温度偏差 | ±2℃ | |||||
冷却方式 | 水冷 | |||||
驻留时间 | 30 min | |||||
温度 范围 | 预热温度 | +60~200℃(40min) | ||||
高温冲击 | +60~150℃ | |||||
预冷温度 | +20℃~-80℃(70min) | |||||
低温冲击 | -10℃~-40℃/-55℃/-65℃ | |||||
温度传感器 | JIS RTD PT100Ω × 3 (白金传感器) | |||||
控制器 | 液晶显示触摸屏PLC控制器 | |||||
控制方式 | 靠积分饱和PID,模糊算法平衡式调温P.I.D + P.W.M + S.S.R | |||||
标准配置 | 附照明玻璃窗口1套、试品架2个、测试引线孔1个 | |||||
安全保护 | 漏电、短路、超温、缺水、电机过热、压缩机超压、超载、过电流保护 | |||||
电源电压 | AC380V 50Hz三相四线+接地线 |
温度过冲的危害
……温度试验箱在开机和每次的加温、保温过程中产生的温度过冲对试验产品是非常有害的。尤其是那些温度敏感的产品和胶合材料,瞬时过冲的温度都会导致产品的损坏和胶合材料的失效。……
温度过冲相关概念
3.2.15
温度过冲 temperature over
在设备升温或降温至规定温度过程中,工作空间实际温度超出规定温度允许范围。
3.2.16
温度过冲量 temperature overshoot
在设备升温或降温至规定温度过程中,工作空间实际温度超出规定温度允许范围的量。
计算公式如下:
ΔT0=|T-Ts|-|ΔT|
式中:
ΔT0——温度过冲量,单位为摄氏度(℃);
T——在设备升温或降温至规定温度过程中,工作空间实际高或低温度,单位为摄氏度(℃);
Ts——设定温度,单位为摄氏度(℃);
ΔT——温度允许偏差值,单位为摄氏度((℃)。
3.2.17
温度过冲恢复时间 recovery time of temperature over
在设备升温或降温至规定温度过程中,工作空间实际温度从超出规定温度允许范围至开始稳定在规定温度允许范围的时间。
——GB/T 5170.1-2016 检测方法第1部分:总则
8.8 温度过冲量检验
8.8.1 测量点位置
温度过冲量测量点规定为设备工作空间的几何中心点。
8.8.2 检验步骤及计算检验结果
温度过种量检验步骤及计算检验结果如下:
温度过种量检验与温度偏差检验同时进行;
在设备升温或降温至设定温度过程中,测量和记录实际达到的高温度值或低温度值;
对所记录的测量数据,按测量系统的修正值进行修正;
取b)所记录的测量数据,按式(10)计算温度过冲量:
ΔT0=|T-Ts|-|ΔT|
式中:
ΔT0——温度过冲量,单位为摄氏度(℃);
T——在设备升温或降温至规定温度过程中,测量点实测的高或低温度值,单位为摄氏度(℃);
Ts——设定的温度值,单位为摄氏度(℃);
ΔT——温度允许偏差值,单位为摄氏度((℃)。
注:设备升温时,测量点的温度没有超出允许的高温度,设备降温时,测量点的温度没有超出允许的低温度,则不存在温度过冲,即没有温度过冲量 東莞市赛思检测設備有限公司 。
8.9 温度过冲恢复时间检验
8.9.1 测量点位置
温度过冲恢复时间测量点规定为设备工作空间的几何中心点。
8.9.2 检验步骤及计算检验结果
温度过冲恢复时间检验与温度过冲量检验同时进行。在温度过冲量检验时,记录测量点温度从发生温度过冲时起,到开始稳定在允许的高温度内(设备升温至设定温度时)或允许的低温度内(设备降温至设定温度时)所需要的时间,即为设备在该检验温度下的温度过冲恢复时间,单位为分(min)東莞市赛思检测設備有限公司 。
注:只有存在温度过冲时,才有温度过冲恢复时间。
——GB/T 5170.2-2017 检验方法第2部分:温度试验设备
其它相关标准
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007,IDT)
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-2:2007,IDT)
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化