三箱体温度冲击试验箱

简要描述：三箱体温度冲击试验箱微电子器件、小型元器件及小型部件的温度筛选、温度冲击测试、可靠性测试、性能检测；冷热冲击箱通过产品在冷、热室之间来回变换，让产品经受快速冲击变化，暴露产品潜在的缺陷或确定产品的寿命。

所属分类：三箱式温度冲击试验箱

更新时间：2020-06-05

厂商性质：生产厂家

详情介绍

品牌	SETH/赛思	价格区间	10万-20万
产地类别	国产	应用领域	能源,电子,航天,汽车,电气

三箱体温度冲击试验箱主要用于设备零部件、汽车配件、金属制品、化工材料、电子芯片、高分子材料等相关行业*的检测设备，可用于测试材料或元器件在瞬间的高温或低温连续的环境下物理性能的可靠性，也可以用于环境应力筛选（温度循环）、高/低温环境适应性和可靠性试验，对各种大型电工电子产品用于发现早期故障、模拟实际温度与快温变环境和考核产品耐受温度的能力。

我公司生产的温度冲击试验箱分为三种类型：两厢式、三厢式和两厢移动三温区。主要的区别在于试验方法、样架移动方式及内部结构，可适用于多种使用条件及不同行业用户的需求。

三箱体温度冲击试验箱满足如下试验方法：

GB2423.1-08 试验A：低温试验方法；GB2423.2-08试验B：高温试验方法；GJB150A.5-09 温度冲击试验；GB10589-2008 低温试验箱技术条件；GB10592-2008 高低温试验箱技术条件；

特点：紧凑灵便：外形紧凑，灵活移动，不受电梯、门口限制；性能先颖：满足严酷标准规范；节能降耗：低温制冷技术，低温效率大幅度提高；静音运转：系统简捷可靠，*降噪技术，严格控制运转噪音；严酷冲击：-650℃*低温制冷能力，满足用户超低温冲击要求；智能操作：专业培训，操作简洁，智能运行；设备安全保护齐备；一机多用：精妙设计，可同时满足温度冲击、高温测试和低温测试要求；丰富接口：提供多个数据接口，各类驱动程序，满足二次开发需求；

技术参数：

型号(CM)		SET-A	SET-B	SET-C	SET-D	SET-G
内部尺寸		40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60	80×70×60
外部尺寸		140×165×165	150×190×175	160×190×185	170×240×195	180×260×200
结构		三厢式（预冷箱）（预热箱）（测试箱）
气门装置		强制的空气装置气门
内箱材质		SUS#304不锈钢
外箱材质		冷轧钢板静电喷塑
冷冻系统		机械压缩二元式复叠制冷方式
转换时间		＜10Sec
温度恢复时间		＜5min
温度偏差		±2℃
冷却方式		水冷
驻留时间		30 min
温度范围	预热温度	+60～200℃（40min）
	高温冲击	+60～150℃
	预冷温度	+20℃～-80℃（70min）
	低温冲击	-10℃～-40℃/-55℃/-65℃
	温度传感器	JIS RTD PT100Ω × 3 (白金传感器)
	控制器	液晶显示触摸屏PLC控制器
	控制方式	靠积分饱和PID，模糊算法平衡式调温P.I.D + P.W.M + S.S.R
标准配置		附照明玻璃窗口1套、试品架2个、测试引线孔1个
安全保护		漏电、短路、超温、缺水、电机过热、压缩机超压、超载、过电流保护
电源电压		AC380V 50Hz三相四线+接地线

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