品牌 | SETH/赛思 | 价格区间 | 20万-50万 |
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产地类别 | 国产 | 应用领域 | 能源,电子,航天,汽车,电气 |
冷热冲击热应力试验箱改变了傳統進行溫度循環、高低溫衝擊(两箱式)、高低溫+常溫衝擊(三箱式)、應力篩選ESS,至少需要購買四台設備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設備才能完成的試驗,需耗費許多添購設備&占用空間的硬體成本, 一次解決您的需求,滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性,提高機台使用的稼動率。並且不需再依不同待測品去耗費時間手動調整,我們的創新系統自動幫您搞定,赛思秉持著符合國際規範的原則,結合貼心的創新功能與技術,期待您詳細了解。对不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求。斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]:
冷热冲击热应力试验箱试验分析:
技术规格:
型号 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
内箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
温度范围 | -80.00℃~+200.00℃ | |||
低温冲击范围 | -10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃ | |||
高温冲击范围 | +60.00℃~+150.00℃ | |||
时间设定范围 | 0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment | |||
温度波动度 | ≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示) | |||
温度偏差 | ≤±2℃(-65℃~+150℃) | |||
温度均匀度 | <2.00℃以内 | |||
温变速率(斜率) | +5℃~+30℃/min(+40℃) | |||
温变范围 | -55℃~+85℃//+125℃ |