品牌 | SETH/赛思 | 价格区间 | 10万-20万 |
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产地类别 | 国产 | 应用领域 | 能源,电子,航天,汽车,电气 |
高低温冷热冲击试验箱对不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。适用于对电子电工和军用设备在周围大所温度急剧变化条件下的适应性试验。
高低温冷热冲击试验箱特点:
沿用欧洲严谨而一丝不苟的产品理念;设备外观精美,工艺细节*呈现;多项技术的应用;压缩机超温自动保护系统,改善压缩机运行工况,从而延长压缩机寿命;采用*的冷端PID调节方式,比平衡调温方式节能约40%;制冷系统配置有用于测量制冷系统压力的精密电子压力传感器;主要配件全部采用进口品牌部件,确保产品品质;实验循环进行,有效达到3天除霜一次,除霜只需2小时;采用纯铝翅片蒸发器,赛思有效降低储能时间和能量节省;具有两箱和三箱测试功能,符合测试规范;赛思世界*观察视窗,有效达到物测目视效果;实时实验曲线分析,赛思配备RS232,USB数据存储连接;具有报警提示即解出报警装置画面图文解说;
试验结束待测品自动回常温赛思避免结霜结露保护机制;
满足标准:
GB/T2423.1-1989低温试验方法; GB/T2423.2-1989高温试验方法;GB/T2423.22-1989温度变化试验; GJB150.5-86温度冲击试验;GJB360.7-87温度冲击试验; JB367.2-87 405温度冲击试验;SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;
IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;GB/T 2423.22-2002温度变化;QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估;
技术规格:
型号(CM) | SET-A | SET-B | SET-C | SET-D | SET-G | |
内部尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 80×70×60 | |
外部尺寸 | 140×165×165 | 150×190×175 | 160×190×185 | 170×240×195 | 180×260×200 | |
结构 | 三厢式(预冷箱)(预热箱)(测试箱) | |||||
气门装置 | 强制的空气装置气门 | |||||
内箱材质 | SUS#304不锈钢 | |||||
外箱材质 | 冷轧钢板静电喷塑 | |||||
冷冻系统 | 机械压缩二元式 复叠制冷方式 | |||||
转换时间 | <10Sec | |||||
温度恢复时间 | <5min | |||||
温度偏差 | ±2℃ | |||||
冷却方式 | 水冷 | |||||
驻留时间 | 30 min | |||||
温度范围 | 预热温度 | +60~200℃(40min) | ||||
高温冲击 | +60~150℃ | |||||
预冷温度 | +20℃~-80℃(70min) | |||||
低温冲击 | -10℃~-40℃/-55℃/-65℃ | |||||
温度传感器 | JIS RTD PT100Ω × 3 (白金传感器) | |||||
控制器 | 液晶显示触摸屏PLC控制器 | |||||
控制方式 | 靠积分饱和PID,模糊算法 平衡式调温P.I.D + P.W.M + S.S.R | |||||
标准配置 | 附照明玻璃窗口1套、试品架2个、测试引线孔1个 | |||||
安全保护 | 漏电、短路、超温、缺水、电机过热、压缩机超压、超载、过电流保护 | |||||
电源电压 | AC380V 50Hz三相四线+接地线 |
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