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冷热冲击筛选试验箱

冷热冲击筛选试验箱

简要描述:冷热冲击筛选试验箱对不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。

所属分类:热应力复合试验箱

更新时间:2020-06-17

厂商性质:生产厂家

详情介绍
品牌SETH/赛思价格区间20万-50万
产地类别国产应用领域能源,电子,航天,汽车,电气

冷热冲击筛选试验箱赛思改变了传统进行温度循环、高低温冲击(2 Zoon)、高低温+常温冲击(3 Zoon)、应力筛选ESS,至少需要购买四台设备的状况。让您摆脱以往需添购很多种设备才能完成的试验,需耗费许多添购设备&占用空间的硬件成本, 一次解决您的需求,满足不同产品不同试验的多样性与多变性,提高机台使用的稼动率。并且不需再依不同待测品去耗费时间手动调整,我们的创新系统自动帮您搞定,赛思秉持着符合规范的原则,结合贴心的创新功能与技术,期待您详细了解。

冷热冲击筛选试验箱特点:

1.可执行AMP(等均温变)、三箱冲击(TC)、两箱冲击(TS)、高温储存、低温储存功能;2.等均温速率可设定范围5℃~30℃/min(40℃/min);3.满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求;4.采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行;5.除霜周期三天除霜一次,每次只需1小时完成;6.通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能;7.感测器放置测试区出(回)风口符合实验有效性;8.机台多处报警监测,配置无线远程报警功能;

技术规格:

型号

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

内箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

温度范围

-80.00℃~+200.00℃

低温冲击范围

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高温冲击范围

+60.00℃~+150.00℃

时间设定范围

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

温度波动度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

温度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

温度均匀度

<2.00℃以内

温变速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

温变范围

-55℃~+85℃//+125℃

 



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