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应力筛选复合试验箱

应力筛选复合试验箱

简要描述:应力筛选复合试验箱改变了以往为进行温度储存、温度循环、高低温冲击两箱式、高低温+常温冲击三箱式、应力筛选ESS试验,至少需要购买四台设备的状况。集多种机型于一体的功能设计,一次性解决您的需求,满足不同产品不同试验的多样性与多变性,提高机台的利用率和工作效率。

所属分类:应力筛选试验箱

更新时间:2024-05-23

厂商性质:生产厂家

详情介绍
品牌SETH/赛思产地类别国产
应用领域能源,电子,航天,汽车,电气

应力筛选复合试验箱改变了以往为进行温度储存、温度循环、高低温冲击两箱式、高低温+常温冲击三箱式、应力筛选ESS试验,至少需要购买四台设备的状况。集多种机型于一体的功能设计,一次性解决您的需求,满足不同产品不同试验的多样性与多变性,提高机台的利用率和工作效率。适用于对整机产品、元器件、零部件、材料等进行温度储存、慢速温度循环3~5℃/min、应力筛选5~15℃/min、快速温变15~30℃/min、冷热冲击试验、检验产品在试验过程中本身的适应能力与特性是否改变。每种产品都有其自身适用的环境应力筛选方法,产品在试验过程中将受到设定的应力作用,产品的各零件、材料运用等方面的缺陷将被提前发现,以便于更好的改进产品的设计和应用。

应力筛选复合试验箱试验指标:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

30℃/min→

电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验

28℃/min→

LED汽车照明灯

25℃/min→

PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应

24℃/min→

光纤连接头

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技术的温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号 比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶显示器 电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、 汽车引擎盖下环境)

11℃/min→

无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) 、IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试

5℃/min→

 

锡须温度循环试验

试验分析:

型号:

型号

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

内箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

温度范围

-80.00℃~+200.00℃

低温冲击范围

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高温冲击范围

+60.00℃~+150.00℃

时间设定范围

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

温度波动度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

温度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

温度均匀度

<2.00℃以内

温变速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

温变范围

-55℃~+85℃//+125℃

 



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