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高低温冲击应力筛选箱

高低温冲击应力筛选箱

简要描述:高低温冲击应力筛选箱适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。

所属分类:冷热冲击应力筛选试验箱

更新时间:2020-06-17

厂商性质:生产厂家

详情介绍
品牌SETH/赛思价格区间面议
产地类别国产应用领域能源,电子,航天,汽车,电气

高低温冲击应力筛选箱改变了以往为进行温度储存、温度循环、高低温冲击两箱式、高低温+常温冲击三箱式、应力筛选ESS试验,至少需要购买四台设备的状况。集多种机型于一体的功能设计,一次性解决您的需求,满足不同产品不同试验的多样性与多变性,提高机台的利用率和工作效率。应力筛选复合试验箱适用于对整机产品、元器件、零部件、材料等进行温度储存、慢速温度循环3~5℃/min、应力筛选5~15℃/min、快速温变15~30℃/min、冷热冲击试验、检验产品在试验过程中本身的适应能力与特性是否改变。每种产品都有其自身适用的环境应力筛选方法,产品在试验过程中将受到设定的应力作用,产品的各零件、材料运用等方面的缺陷将被提前发现,以便于更好的改进产品的设计和应用。

高低温冲击应力筛选箱行业优势:

◆ 可执行AMP(等均温变)、三箱冲击(TC)、两箱冲击(TS)、高温储存、低温储存功能;◆ 等均温速率可设定范围5℃~30℃(40℃);◆ 满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求;◆ 采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行;◆除霜周期三天除霜一次,每次只需1小时完成;◆ 通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能;◆ 感测器放置测试区出(回)风口符合实验有效性;◆ 机台多处报警监测,配置无线远程报警功能;

测试指标:满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求。

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

30℃/min→

电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验

28℃/min→

LED汽车照明灯

25℃/min→

PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应

24℃/min→

光纤连接头

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技术的温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号 比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶显示器 电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、 汽车引擎盖下环境)

11℃/min→

无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) 、IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试

5℃/min→

 

锡须温度循环试验

技术规格:

型号

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

内箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

温度范围

-80.00℃~+200.00℃

低温冲击范围

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高温冲击范围

+60.00℃~+150.00℃

时间设定范围

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

温度波动度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

温度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

温度均匀度

<2.00℃以内

温变速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

温变范围

-55℃~+85℃//+125℃



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